edx-凯发k8国际首页登录
能量色散型x射线荧光分析装置
先进的分析性能
采用高性能的sdd检测器,确保硬件更佳化,具有业内闻名的高灵敏度·高速分析和高分辨率。可以检测出6c~的机型正式上线(edx-8000/8100)。
高灵敏度 –提高检测下限1.5~5倍-
高性能的sdd检测器与更佳化的光学系统和一次滤光片的组合,实现业内闻名的高灵敏度。
从轻元素到重元素,全范围轻松应对。与采用传统si(li)半导体检测器的分析装置相比,灵敏度也更胜一筹。
高速 –分析速度最大可提高10倍-
sdd检测器在单位时间内x射线荧光的计数率高,因此能够在更短的检测时间内进行高精度分析。特别是对金属材料的分析,这个特点可以得到更大限度的发挥。
测定时间与标准偏差(定量值偏差)的关系
实际样品的比较 |
分别用以往型号和edx-8000/8100对无铅焊锡中所含的铅(pb)进行分析,比较重现性。 |
x射线荧光分析可以通过延长测定时间增加x射线荧光的计数从而提高精度(重现性)。
搭载高计数率sdd检测器的edx-8000/8100与以往型号相比,能够在更短的时间内保证分析精度。
高分辨率
与配置以往si(li)半导体检测器的型号相比,能量分辨率更胜一筹。
不同元素峰值重叠的影响减小,提升可靠性。
无需液氮
sdd检测器为电子制冷方式,无需液氮冷却。不仅可以从繁琐的液氮补充作业中解放出来,更可以降低仪器的维护成本。
检测元素范围
· 用edx-8100进行15p以下的轻元素分析时,需要真空检测单元或者氦气置换检测单元(均为选购件)。
· 用edx-8000进行15p以下的轻元素分析时,需要真空检测单元(选购件)。
edx-8000/8100进行超轻元素分析
edx-8000/8100搭载的sdd检测器窗口采用极薄的薄膜特殊材料,能够检测碳(c)、氧(o)、氟(f)超轻元素。