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扫描探针性显微镜

纳米领域表面/界面物理性质可视化处理

扫描探针显微镜的探针和样品之间的力随距离的变化而变化，通过测量作用于探针接近/离开样品时悬臂感受到的力的力（测量力曲线），可以检测表面/界面的物理性质。

主要优点：
1.通过测量特定位置的力曲线，可以检测样品吸附力和杨氏模量（点位分析）
2.获取各点力曲线，检测平面物理性质分布（mapping）
3.将获得的数据生成3d效果图，实现数据筛选与解析（3d分析）
4.通过理论模型计算杨氏模量

膜表层任意位置物理性质检测

通过在膜表面任意位置进行力曲线测量，可测得各点吸附力的差异。
对生物高分子等小而柔软的样品也可进行物理性质测定。

3d分析

成像技术将测得的力曲线全部保存，可呈现出3d效果，也可选取任意断面进行分析。

树脂薄膜物理性质（mapping）

mapping功能可以同时测量表面形状、吸附力以及杨氏模量。如图，可对树脂膜300nm局部进行定量测量并生成图像。（样品提供方：moresco）
实例：高分子材料表面一致性检查

胶带粘贴面检测

上图，是对胶带的粘贴面进行鉴定，可以看出粘贴力分布不均。通常的检测方法是很难对粘贴性能进行检查的。
实例：薄膜等局部粘贴性检查